报告时间：2018年9月20日(周四),15:00

报告地点：4号楼205会议室

报告摘要：

材料的结构、成分和物理、化学性质之间的本征联系是新材料研究中的基本科学问题之一。球差校正电镜技术的发展已经使得扫描透射电子显微镜（STEM）能够在较低的加速电压（30-100kV）下实现原子分辨率及单原子分析灵敏度的高分辨成像及能谱分析，同时极大地降低高能电子束对纳米材料的辐照损伤，为在原子尺度研究二维材料的本征缺陷物理以及纳米催化剂的构效关系提供了新的分析手段。

在这个报告中，我将介绍我们近几年利用低电压球差校正扫描透射电子显微学方法在二维材料和纳米多相催化剂研究中所做的一些工作，包括STEM单原子成像及能谱分析技术的发展【1】；新型二维半导体材料的缺陷结构研究及调控【2，3】；以及纳米多相催化剂活性中心的原子结构研究【4，5】。

代表作：

[1] Zhouet al.,Phys. Rev. Lett.109, 206803 (2012)

[2] Zhouet al.,Nano Letters13, 2615-2522 (2013)

[3] Linet al.,Nature Nanotechnology9, 436-442 (2014)

[4] Linet al.,Nature544, 80-83 (2017)

[5] Yaoet al.,Science357, 389-393 (2017)

报告人简介：

周武，2006年清华大学本科毕业，2010年获美国Lehigh大学材料科学博士学位，曾任美国橡树岭国家实验室研究员。现为中国科学院大学物理科学学院研究员、长聘教授。先后获得美国橡树岭国家实验室Eugene P. Wigner Fellowship，中组部青年千人计划，中科院百人计划，自然科学基金委优秀青年基金支持。长期从事低电压球差校正扫描透射电子显微学及功能纳米材料研究。主要研究的材料体系包括二维材料，异相催化剂，以及电池材料等。在Nature，Nature子刊，PRL等学术期刊上发表论文100余篇，SCI引用8000余次。